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HM-04Ⅱ
HM-04Ⅱ 产品特点:
用于将电子零件产生的气体捕集到一级吸附管。配备4个采样室,由独立的控制阀控制吹扫气,进行独立捕集采样,互不干扰,确保分析数据切实可靠。吹扫后所得的挥发成分,由HM-04Ⅱ上装填Tenax的PAT(一级吸附管)进行捕集。此外,可用定时器设定吹扫时间(最大值为99小时59分)。*可设置在指定的吹扫时间结束后,用电磁阀关闭PAT(一级吸附管),以防止已附着的成分泄漏。
HM-10
HM-10 产品特点:
配备两个可放置4个样品的加热炉、可放置1个样品的加热炉两个,四个加热炉独立运行。
可任意设定10个样品的吹扫气供应量。
各个加热炉的加热温度可以设定为室温到200℃(最高温度可达260℃)。
各个加热炉的加热时间可用定时器进行设定。
试样管经惰性化镀层处理。
内置水冷阀可方便地对加热炉温度进行调整。
HM-24
HM-24 产品特点:
配备可放置6个样品的加热炉4个,四个加热炉独立运行。
可任意设定24个样品的吹扫气供应量。
SW-8400/12400
SW-8400/12400 产品特点:
SW-8400 用于捕集8吋和6吋硅芯片表面的挥发性成分(有机污染物)。
SW-12400 用于捕集12吋硅芯片表面的挥发性成分(有机污染物)。
捕集单面硅芯片挥发性气体,操作简便。
加热炉采用倒悬方式,仅对芯片正面产生的气体进行捕集采样。
加热炉最高可加热到500℃。
加热炉封口采用O形环(聚亚胺材质)密封,无泄露。
一般采用PAT(内容积10ml,填充2.5g Tenax GR)捕集气体。也可选用其它厂家的相应捕集采样管进行采样。
配备冷却水循环装置。
配备防过热装置、联锁安全装置、急停按钮、漏水传感器(选配)等安全防范装置。
FP-9000
FP-9000 产品特点:
FP-9000型平板气体捕集装置专为捕集LCD液晶显示器和PDP等离子显示器平板表面产生的挥发性气体(有机污染物)而开发。
加热炉台座备有固定平板的装置,可靠地对平板气体进行捕集分析。
加热炉最高可加热至500℃进行捕集采样。
加热炉采用倒悬方式,仅对平板正面进行采样,且不会对平板造成破损。
BO-HM-01
BO-HM-01 产品特点:
采用容积为250ml的大试样管。
采用试样管或PAT灼烧用部件,可分别完成气体捕集和PAT灼烧两项功能。
可选配循环水冷装置。
TDV-04
HD-2.5/3.5
针对不同尺寸的硬盘(HD)而设计。
G系列产品:加热炉内表面经镀金处理。
W系列产品:内置循环水冷装置。
HDD-500
可分析HDD内部或表面产生的气体。
适用于各种尺寸大小的HDD。
加热炉内容积大;PAT捕集采样后,用JTD-505Ⅱ进行定量分析,挥发性气体不会损失。此外,在捕集气体后可添加内标物进行分析。
由于该设备内部空间较大,也可用于分析HDD以外电子组件产生的气体。
O-HDD
将吹扫气的出入口装在硬盘驱动器上,由一级吸附管(PAT)捕集HDD运转过程中产生的挥发性气体。
PAT捕集气样后导入P&T-GC进行定性定量分析。
可对HDD适当加热。
PAT吸附性能卓著,完全捕集挥发性气体。
AL-430
可以方便地采集无尘室的气体。
若设定采样量,可自动采样。
杆式设计,PAT安装方便。
内置电池(可用8小时),亦可用DC12V或AC100V采样。
OCM-6T
可方便地将设备带到无尘室进行气体采样。
可用双面胶带将设备紧贴在平面建材上,对挥发性气体进行采样。
铝铂环贴采样圈,避免前一次试料的影响。
带有真空泵,铝铂环贴操作十分简便。
AQ-200T
可做乳液等水溶性试料中的挥发性气体分析。
对含乙醇的水溶性试料,水和乙醇的脱?突臃⑿云宀都苯小?
PAT的容积大,可捕集从工业废水到饮料等多种试样的挥发性气体。
该设备由于可以独立于P&T装置进行浓缩操作,节省分析时间。
CG-77
可分析聚合物燃烧后所得气体。
与JIS法不同,它可以分析大分子量的燃烧生成物。
采用居里点加热方式,重复性卓越。
亦可GC分析聚合物在空气中的热分解。
可将燃烧气体捕集到一级吸附管后转移到JTD-505Ⅱ进行燃烧气体分析。
燃烧室的结构可根据不同试料进行变换。