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HM-04Ⅱ
HM-04Ⅱ 產品特點:
用於將電子零件產生的氣體捕集到一級吸附管。配備4個採樣室,由獨立的控制閥控制吹掃氣,進行獨立捕集採樣,互不干擾,確保分析資料切實可靠。吹掃後所得的揮發成分,由HM-04Ⅱ上裝填Tenax的PAT(一級吸附管)進行捕集。此外,可用計時器設定吹掃時間(最大值為99小時59分)。*可設置在指定的吹掃時間結束後,用電磁閥關閉PAT(一級吸附管),以防止已附著的成分洩漏。
HM-10
HM-10 產品特點:
配備兩個可放置4個樣品的加熱爐、可放置1個樣品的加熱爐兩個,四個加熱爐獨立運行。
可任意設定10個樣品的吹掃氣供應量。
各個加熱爐的加熱溫度可以設定為室溫到200℃(最高溫度可達260℃)。
各個加熱爐的加熱時間可用計時器進行設定。
試樣管經惰性化鍍層處理。
內置水冷閥可方便地對加熱爐溫度進行調整。
HM-24
HM-24 產品特點:
配備可放置6個樣品的加熱爐4個,四個加熱爐獨立運行。
可任意設定24個樣品的吹掃氣供應量。
SW-8400/12400
SW-8400/12400 產品特點:
SW-8400 用於捕集8吋和6吋矽晶片表面的揮發性成分(有機污染物)。
SW-12400 用於捕集12吋矽晶片表面的揮發性成分(有機污染物)。
捕集單面矽晶片揮發性氣體,操作簡便。
加熱爐採用倒懸方式,僅對晶片正面產生的氣體進行捕集採樣。
加熱爐最高可加熱到500℃。
加熱爐封口採用O形環(聚亞胺材質)密封,無洩露。
一般採用PAT(內容積10ml,填充2.5g Tenax GR)捕集氣體。也可選用其他廠家的相應捕集採樣管進行採樣。
配備冷卻水循環裝置。
配備防過熱裝置、聯鎖安全裝置、急停按鈕、漏水感測器(選配)等安全防範裝置。
FP-9000
FP-9000 產品特點:
FP-9000型平板氣體捕集裝置專為捕集LCD液晶顯示器和PDP等離子顯示器平板表面產生的揮發性氣體(有機污染物)而開發。
加熱爐台座備有固定平板的裝置,可靠地對平板氣體進行捕集分析。
加熱爐最高可加熱至500℃進行捕集採樣。
加熱爐採用倒懸方式,僅對平板正面進行採樣,且不會對平板造成破損。
BO-HM-01
BO-HM-01 產品特點:
採用容積為250ml的大試樣管。
採用試樣管或PAT灼燒用部件,可分別完成氣體捕集和PAT灼燒兩項功能。
可選配循環水冷裝置。
TDV-04
HD-2.5/3.5
針對不同尺寸的硬碟(HD)而設計。
G系列產品:加熱爐內表面經鍍金處理。
W系列產品:內置循環水冷裝置。
HDD-500
可分析HDD內部或表面產生的氣體。
適用於各種尺寸大小的HDD。
加熱爐內容積大;PAT捕集採樣後,用JTD-505Ⅱ進行定量分析,揮發性氣體不會損失。此外,在捕集氣體後可添加內標物進行分析。
由於該設備內部空間較大,也可用於分析HDD以外電子元件產生的氣體。
O-HDD
將吹掃氣的出入口裝在硬碟驅動器上,由一級吸附管(PAT)捕集HDD運轉過程中產生的揮發性氣體。
PAT捕集氣樣後導入P&T-GC進行定性定量分析。
可對HDD適當加熱。
PAT吸附性能卓著,完全捕集揮發性氣體。
AL-430
可以方便地採集無塵室的氣體。
若設定採樣量,可自動採樣。
桿式設計,PAT安裝方便。
內置電池(可用8小時),亦可用DC12V或AC100V採樣。
OCM-6T
可方便地將設備帶到無塵室進行氣體採樣。
可用雙面膠帶將設備緊貼在平面建材上,對揮發性氣體進行採樣。
鋁鉑環貼採樣圈,避免前一次試料的影響。
帶有真空泵,鋁鉑環貼操作十分簡便。
AQ-200T
可做乳液等水溶性試料中的揮發性氣體分析。
對含乙醇的水溶性試料,水和乙醇的脫除和揮發性氣體捕集同時進行。
PAT的容積大,可捕集從工業廢水到飲料等多種試樣的揮發性氣體。
該設備由於可以獨立於P&T裝置進行濃縮操作,節省分析時間。
CG-77
可分析聚合物燃燒後所得氣體。
與JIS法不同,它可以分析大分子量的燃燒生成物。
採用居里點加熱方式,重複性卓越。
亦可GC分析聚合物在空氣中的熱分解。
可將燃燒氣體捕集到一級吸附管後轉移到JTD-505Ⅱ進行燃燒氣體分析。
燃燒室的結構可根據不同試料進行變換。